薄膜质量检测-薄膜厚度的检测

    1.薄膜厚度控制的重要性

    ①成品的厚度及厚度均匀性主要取决于复合前单层膜的厚度及均匀性，也就是说控制好单层膜的厚度质量是获得合格成品厚度质量的前提。

    ②薄膜的阻隔性与薄膜的厚度密切相关（一般与厚度成正比关系），均匀性好的薄膜能获得均一稳定的阻隔性。

    ③薄膜厚度均匀性直接影响薄膜的机械拉伸性能，厚度均匀性好的薄膜能获得较好的印刷套印精度及复合质量。薄膜拉伸性能检测仪器：薄膜厚度测试仪，可获得薄膜的机械拉伸性能。

    ④相同内层材质的复合膜，厚度偏高则起始温度偏高，反之亦然。也就是说，厚度均匀的复合膜较能获得均一的封合质量，避免局部热封不良现象。

    ⑤多数客户是按平方米作为交货数据，将薄膜厚度控制在要求的范围内，可有效控制复合膜的加工成本。

    2.薄膜测厚仪介绍

    （1）螺旋测微器。

    ①螺旋测微器的结构。

    螺旋测微器（又叫千分尺）是比游标卡尺更精密的测量厚度的工具，用它测厚度可以准确到0.01mm，测量范围为几个厘米。它主要由主尺和螺旋尺组成，其部分名称及主要用途如下。

a．          主尺。用于读取固定刻度所显示的zui大毫米刻度数（包括0.5mm）。

b．          旋钮。用于读取主尺上固定刻度的水平线对应的螺旋尺上可动刻度的刻度（包括估读）。

c．           旋钮。用于紧固被测物。

d．          微调旋钮。用于可动尺的微调。

e．           测微螺杆。

f．            小砧。

    ②螺旋测微器的原理。

    螺旋测微器是依据螺旋放大的原理制成的，即螺杆在螺母中旋转一周，螺杆便沿着旋转轴线方向移动的微小距离，就能用圆周上的读数表示出来。螺旋测微器的精密螺纹的螺距是0.5mm，可动刻度有50个等分刻度，可动刻度旋转一周，测微螺杆可前进或后退0.5mm，因此旋转每个小分度，相当于测微螺杆前进或后退0.5/50=0.01mm。可见，可动刻度每一小分度表示0.01mm，所以螺旋测微器可准确到0.01mm，由于还能再估读一位，可读到毫米的千分位，故又名千分尺。

    测量时，当小砧和测微螺旋杆并拢时，可动刻度的零点恰好与固定刻度的零点重合，旋出测微螺杆，并使小砧和测微螺杆的面正好接触待测厚度的两端，那么测微螺杆向右移动的距离就是所测的厚度。这个距离的整毫米数由固定刻度上读出，小数部分则由可动刻度读出。

    ③使用螺旋测微器应注意一下几点。

a．          测量时，在测微螺旋杆快靠近被测物体时应停止使用旋钮，而改用微调旋钮，避免产生过大的压力，既可使测量结果，又能保护螺旋测微器。

b．          在读书时，要注意固定刻度尺上表示半毫米的刻线是否已经露出。

c．           读书时，千分位有一位估读数字，不能随便扔掉，即使固定刻度的零点正好与可动刻度的某一刻度线对齐，千分位上也应读为“0”。

d．          当小砧和测微螺旋杆并拢时，可动刻度的零点与固定刻度的零点不相重合，将出现*，应加以修正，即在zui后测厚度的读数上去掉*的数值。

    另外，数显式螺旋测微器读数更快捷、准确，还可实现任意位置重复0位，使用方便。

    （2）LPT-1S薄膜测厚仪

    技术指标：

    测量范围：0~1mm

    分度值：0.001mm

    综合误差：≤0.005mm

    上测头：曲径半径为15~50mm

    下测头：直径6mm平面

    测头符合：0.1~0.5N

    测量精度：100μm以内＜1μm，100~250μm＜2μm，250μm＜3μm

    试验条件：标准试验环境

    净重：1.5kg

    （3）CHY-C2测厚仪

    技术指标：

    常规测量范围：0~2mm

    分辨率：0.1μm

    测量速度：10次/分（可调）

    测量压力：（17.5±1）kPa（薄膜），（50±1）kPa（纸张）

    接触面积：50mm²（薄膜），200mm²（纸张）

    电源：AC 220V 50Hz

    外形尺寸：300mm[L]×275mm[B]×300mm[H]

    注：赛成科技的薄膜厚度测试仪可对薄膜进行多种物理性能测试，可选量程，测试。