薄膜测厚仪应用范围简述

发布时间： 2019-09-16　　点击次数： 634次

薄膜测厚仪当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡流产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。

薄膜测厚仪采用机械接触式测试原理，截取一定尺寸试样，测厚仪测量头自动降落于试样之上，依靠固定的压力和固定的接触面积下测试出试样的厚度值，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。

薄膜测厚仪应用范围：

（1）对金属箔片等硬质材料厚度测量；

（2）接触式测试原理更有效的检测出太阳能硅片上每个点的厚度值；

（3）通过调节测量头可完整纸张规定的压力和面积，完整各种纸张厚度测试、纸板材料厚度测试；

（4）用于薄膜、电池隔膜、电容薄膜材料等软质材料厚度测量；

薄膜测厚仪的技术优势：

1、微电脑控制、大液晶显示。

2、进口高精度传感器，保证了测试精度。

3、严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。

4、测量头自动升降，避免了人为因素造成的系统误差。

5、手动、自动双重测量模式，更方便客户选择。