薄膜测厚仪当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡流产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。
薄膜测厚仪采用机械接触式测试原理，截取一定尺寸试样，测厚仪测量头自动降落于试样之上，依靠固定的压力和固定的接触面积下测试出试样的厚度值，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。
薄膜测厚仪应用范围：
（1）对金属箔片等硬质材料厚度测量；
（2）接触式测试原理更有效的检测出太阳能硅片上每个点的厚度值；
（3）通过调节测量头可完整纸张规定的压力和面积，完整各种纸张厚度测试、纸板材料厚度测试；
（4）用于薄膜、电池隔膜、电容薄膜材料等软质材料厚度测量；
薄膜测厚仪的技术优势：
1、微电脑控制、大液晶显示。
2、进口高精度传感器，保证了测试精度。
3、严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持 各种非标定制。
4、测量头自动升降，避免了人为因素造成的系统误差。
5、手动、自动双重测量模式，更方便客户选择。
6、配备微型打印机，数据实时显示、自动统计、打印， 方便快捷地获取测试结果。
7、打印大值、小值、平均值及每次测量结果，方便 用户分析数据。
8、仪器自动保存多100组测试结果，随时查看并打印。
9、标准量块标定，方便用户快速标定设备。
10、测厚仪配备自动进样器，可一键实现全自动多点测量，人为误差小。
11、薄膜测厚仪专业软件提供测试结果图形统计分析，准确直观地将 测试结果展示给用户。
12、配备标准RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和 数据传输。
更新时间：2019-09-19
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