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薄膜测厚仪应用范围简述

发布时间: 2019-09-16  点击次数: 453次
     薄膜测厚仪当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时,由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流,此涡流产生的磁场又反作用于探头线圈,使其阻抗发生变化,此变化量与探头线圈离金属表面的距离(即覆盖层的厚度)有关,因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。
 
    薄膜测厚仪采用机械接触式测试原理,截取一定尺寸试样,测厚仪测量头自动降落于试样之上,依靠固定的压力和固定的接触面积下测试出试样的厚度值,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。
 
    薄膜测厚仪应用范围:
 
    (1)对金属箔片等硬质材料厚度测量;
 
    (2)接触式测试原理更有效的检测出太阳能硅片上每个点的厚度值;
 
    (3)通过调节测量头可完整纸张规定的压力和面积,完整各种纸张厚度测试、纸板材料厚度测试;
 
    (4)用于薄膜、电池隔膜、电容薄膜材料等软质材料厚度测量;
 
    薄膜测厚仪的技术优势:
 
    1、微电脑控制、大液晶显示。
 
    2、进口高精度传感器,保证了测试精度。
 
    3、严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持 各种非标定制。
 
    4、测量头自动升降,避免了人为因素造成的系统误差。
 
    5、手动、自动双重测量模式,更方便客户选择。
 
    6、配备微型打印机,数据实时显示、自动统计、打印, 方便快捷地获取测试结果。
 
    7、打印大值、小值、平均值及每次测量结果,方便 用户分析数据。
 
    8、仪器自动保存多100组测试结果,随时查看并打印。
 
    9、标准量块标定,方便用户快速标定设备。
 
    10、测厚仪配备自动进样器,可一键实现全自动多点测量,人为误差小。
 
    11、薄膜测厚仪专业软件提供测试结果图形统计分析,准确直观地将 测试结果展示给用户。
 
    12、配备标准RS232接口,方便系统与电脑的外部连接和 数据传输。
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