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关于薄膜测厚仪的主要技术特征你还可以了解更多

更新时间:2021-09-24点击次数:628

    薄膜测厚仪又称为测厚仪、薄膜厚度检测仪、薄膜厚度仪等,薄膜测厚仪专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

    塑料包装材料厚度是否均匀是检测其各项性能的基础。包装材料厚度不均,会影响到阻隔性、拉伸强度等性能;对材料厚度实施高精度控制也是确保质量与控制成本的重要手段。

    采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

    薄膜测厚仪的技术特征:

    严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制;

    测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差;

    支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择;

    实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断;

    配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性;

    系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果;

    系统由微电脑控制,搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看;

    标准的RS232接口,便于系统的外部连接和数据传输;

    支持Lystem™实验室数据共享系统,统一管理试验结果和试验报告。